This article is about computer simulation for surface analysis through nuclear techniques, which are mainly non-destructive. The energy analysis method, nuclear reactions and elastic scattering are used. Energy spectra are computer simulated and compared to experimental data, giving sample composition and concentration profiles. Successful applications of the method are illustrated by 12C(d,p0)13C and 18O(p,α0)15N reactions and elastic scattering of (4He)+ ions, for three types of samples. SEM microscopy is used as a complementary technique for surface imaging.

This article is about computer simulation for surface analysis through nuclear techniques, which are non-destructive. The energy analysis method is used. Energy spectra are computer simulated and compared to experimental data, giving sample composition and concentration profiles. The method is successfully applied to depth profiling of light nuclei e. g. 12C and 18O in thick targets, using deuteron and proton induced reactions, respectively. Scanning electron microscopy is used as a complementary technique, to give information about surface topography.

This article is about computer simulation for surface analysis through nuclear techniques, which are mainly non-destructive. The energy analysis method, nuclear reactions and elastic scattering are used. Energy spectra are computer simulated and compared to experimental data, giving sample composition and concentration profiles. Successful applications of the method are illustrated by 18O(p,α0)15N and 12C(d,p0)13C reactions and elastic scattering of (4He)+ ions, for three types of samples. SEM microscopy is used as a complementary technique for surface imaging.

Surface analysis is made by nuclear, non-destructive, means and computer simulation for the energy method of analysis. The predicted energy spectra are compared to experimental data, giving target composition and concentration profile information. Mainly, target parameterization and available nuclear data are considered in the computations. The method is favourably applied to the determination of an 18O step concentration profile in a thick oxidized target. A uniform concentration profile of 12C is found for a thick target. Elastic scattering permits depth profiling of Al and O in a thick oxide target. © 2017 Institute of Measurement Science SAS.

Este trabalho apresenta um sistema de inspeção visual automática para a classificação de superfícies impressas por processos de fabrico aditivo. São também localizados os defeitos, caso existam, nessas mesmas superfícies. A análise e classificação é realizada por comparação com uma superfície de referência. O sistema está dividido em quatro etapas principais: pré-processamento, análise da cor, análise da superfície e localização de defeitos. A análise de cor é realizada no espaço de cor CIEL*a*b*, sendo calculada a distância de cor entre a superfície em análise e a de referência, utilizando a fórmula da diferença de cor ∆E2000. As superfícies que não se encontram dentro dos parâmetros predefinidos são rejeitadas de imediato, e as restantes passam para a próxima etapa onde é feita a análise à superfície da peça. A análise à superfície consiste na binarização da imagem utilizando o detetor de contornos Canny sendo, de seguida, calculados os momentos de Hu da imagem da superfície a ser analisada que são comparados com os da superfície de referência. As superfícies que se encontrem dentro dos parâmetros estabelecidos como aceitáveis, são classificadas como superfícies de boa qualidade, as restantes passam para a próxima etapa, onde é realizada a localização dos defeitos. Para a localização de defeitos, a imagem da superfície a analisar é primeiro filtrada com um filtro de mediana. A imagem original e a filtrada são subtraídas, e a imagem resultante da subtração é então binarizada, sendo os defeitos localizados através de um detetor de blobs. As superfícies onde sejam detetados erros, são consideradas de má qualidade. Numa fase de treino, foi utilizado um subconjunto de peças para avaliar o desempenho dos diferentes métodos considerados e estabelecer os valores de alguns parâmetros. Posteriormente, numa fase de teste e validação, o desempenho do sistema foi avaliado recorrendo a um conjunto distinto de peças.

The Geographic Information Systems (GIS) are an essential tool in approaching various analysis operations whose results permit to question the cultural choices on a determined agricultural space. The handling and analysis of any entity with well-defined geographical positioning will allow the construction of surfaces that will be fundamental on the information crossing. The interpretation of the analysis performed will potentiate the knowledge allowing a more conscious and thoughtful decision making. In the essay which is presented, the data used – aerial photography and elevation points– refer to Quinta do Quinto (property of Escola Superior Agrária de Santarém). It will be about this agricultural space that will be obtained new information capable of complementing the current knowledge of this space. To achieve this goal several surfaces will be generated such as the digital terrain model, contours, slopes and aspect.