O Orógeno Ribeira representa um cinturão de dobramentos e empurrões, gerado no Neoproterozóico/Cambriano, durante a Orogênese Brasiliana, na borda sul/sudeste do Cráton do São Francisco e compreende quatro terrenos tectono-estratigráficos: 1) o Terreno Ocidental, interpretado como resultado do retrabalhamento do paleocontinente São Francisco, é constituído de duas escamas de empurrão de escala crustal (Domínios Andrelândia e Juiz de Fora); 2) o Terreno Oriental representa uma outra microplaca e abriga o Arco Magmático Rio Negro; 3) o Terreno Paraíba do Sul, que constitui-se na escama superior deste segmento da faixa; e 4) o Terreno Cabo Frio, cuja docagem foi tardia, ocupa pequena área no litoral norte do estado do Rio de Janeiro. Em todos os diferentes compartimentos do segmento central da Faixa Ribeira podem ser identificadas três unidades tectono-estratigráficas: 1) unidades pré-1,8 Ga. (ortognaisses e ortogranulitos do embasamento); 2) rochas metassedimentares pós-1,8 Ga; e 3) granitóides/charnockitóides brasilianos. O Complexo Mantiqueira é composto por ortognaisses migmatíticos, tonalíticos a graníticos, e anfibolitos associados, constitui o embasamento pré-1,8 Ga das rochas da Megasseqüência Andrelândia no domínio homônimo do Terreno Ocidental. Foram integrados 68 dados litogeoquímicos dentre ortognaisses e metabasitos do Complexo Mantiqueira. As rochas dessa unidade pertencem a duas séries distintas: série calcioalcalina (rochas intermediárias a ácidas); e série transicional (rochas básicas, ora de afinidade toleítica, ora alcalina). Com base em critérios petrológicos, análise quantitativa e em valores [La/Yb]N, verificou-se que o Complexo Mantiqueira é bastante heterogêneo, incluindo diversos grupos petrogeneticamente distintos. Dentre as rochas da série transicional, foram identificados 2 conjuntos: 1) rochas basálticas toleiíticas, com [La/Yb]N entre 2,13 e 4,72 (fontes do tipo E-MORB e/ou intraplaca);e 2) rochas basálticas de afinidade alcalina, com [La/Yb]N entre 11,79 e 22,78. As rochas da série calciolacalina foram agrupadas em cinco diferentes conjuntos: 1) ortognaisses migmatíticos quartzo dioríticos a tonalíticos, com [La/Yb]N entre 11,37 e 38,26; 2) ortognaisses bandados de composição quarzto diorítica a granodiorítica, com [La/Yb]N entre 4,35 e 9,28; 3) ortognaisses homogênos de composição tonalítica a granítica, com [La/Yb]N entre 16,57 e 38,59; 4) leucognaisses brancos de composição tonalítica/trondhjemítica a granítica, com [La/Yb]N entre 46,69 e 65,06; e 5) ortognaisse róseo porfiroclástico de composição tonalítica a granítica, com [La/Yb]N entre 82,70 e 171,36. As análises geocronológicas U-Pb SHRIMP foram realizadas no Research School of Earth Science (ANU/Canberra/Austrália). Foram obtidas idades paleoproterozóicas para as rochas das duas séries identificadas, interpretadas como a idade de cristalização dos protólitos magmáticos desses gnaisses e metabasitos. Os resultados obtidos mostram uma variação de idades de cristalização de 2139 ± 35 a 2143,4 ± 9,4, para as rochas da série transicional, e de 2126,4 ± 8 a 2204,5 ± 6,7, para aquelas da série calcioalcalina. Dentre todas as amostras estudadas, apenas a amostra JF-CM-516IV forneceu dados discordantes de idades arqueanas (2929±16 Ma), interpretados como dados de herança. Contudo, evidências dessa herança semelhantes a esta são observadas em outras amostras. Ambas as séries também apresentaram idades de metamorfismo neoproterozóico, no intervalo de 548 ± 17 Ma a 590,5 ± 7,7 Ma que é consistente com o metamorfismo M1 (entre 550 e 590 Ma), contemporâneo à colisão entre os Terrenos Ocidental e Oriental do setor central da Faixa Ribeira (Heilbron, 1993 e Heilbron et al., 1995).

O presente trabalho consiste na implementação de um novo modo de aquisição de dados para um dos sistemas de espectrometria do Laboratório de Implantação Iônica - UFRGS, a técnica de ToF-SIMS. Esse sistema permite o monitoramento da corrente na amostra ao longo de todo o experimento, o que acaba por trazer informações da quantidade de íons que está incidindo na amostra por área. Assim, as curvas de degradação para o material em estudo podem ser obtidas através desse sistema, e sua análise feita a partir dos códigos desenvolvidos com finalidade de automatizar o processo, pois o número de espectros necessários para uma curva de degradação é grande. Por fim, foi obtida a seção de choque de degradação para o policloreto de vinila e para o poliestireno e uma suposição a respeito da definição dos compostos de fragmentação a partir de sua seção de choque específica.

In this work the depth of interfaces in multilayered structures was estimated. The fractions of positron annihilation as function of the implantation energy were estimated from an S-W plot and then converted into a function of the sample depth through the positron implantation profile in the multilayer system computed from a reduced positron profile. The results of this method in Ti/Al samples are comparable to those using the common analysis based on positron diffusion equations. The positron analyses results were compared with SIMS profiles for the same samples.

Cada vez mais estamos rodeados por equipamentos que contêm dispositivos electrónicos. O facto destes dispositivos serem produzidos a nível industrial, não quer dizer que os processos utilizados para a sua produção não possam ser melhorados. Devido à produção em grande escala é interessante optimizar os processos em termos económicos. Este trabalho utiliza um método de produção com uma etapa inovadora na fase inicial de dopagem do silício cristalino, tornando o processo energeticamente mais barato, quando comparado com o método de produção convencional. Assim, pretende-se eliminar duas fases do processamento que são executadas a altas temperaturas (≈ 1000 ºC): a oxidação para mascaramento e a pré-deposição térmica. A inovação está na pré-deposição de um filme fino de silício amorfo hidrogenado altamente dopado, que funcionará como fonte finita de dopante, com dose conhecida. O filme é depositado por PECVD a baixa temperatura (70 ºC). Com este novo método produziram-se junções n+/p, estudando-se a influência da percentagem de gás dopante (fosfina) e, consequentemente, da concentração à superfície nas propriedades do dispositivo. Obteve-se assim a percentagem de fosfina óptima de 1,5%. Para as junções produzidas nestas condições obtiveram-se valores de razão de rectificação, I(1V)/I(-1V), RON/OFF = 1,3 × 103, com uma tensão limiar, VT = 0,51 V e um factor de qualidade, η = 2,43. Após a optimização do fabrico das junções n+/p, foi possível a produção de transístores de efeito de campo de canal n. Os n-MOS obtidos apresentam um comportamento de deplecção com seguintes parâmetros: VT = - 12,6 V e mobilidade de efeito de campo, μFE = 673 cm2/(V.s).

The surface of a solid barium sample has been studied by surface analysis techniques. The procedure to obtain a clean surface is discussed. In depth distribution of the sputtered ions during cleaning provides a good way to understand the evolution in the surface composition. Ion images show clear differences in the composition of the sputtered spot relatively to the adjacent area. The acquisition of XPS and AES spectra showed that the surface is clean according to usual guidelines. However, positive and negative SIMS spectra gave insight in the identification of the low level contaminants. About 12 compounds have been identified on the 'clean' barium surface.

Titanium aluminides are a valuable alternative to superalloys in applications where the ratio resistance/density is important. Since the ordinary production routes lead to high final costs, an alternative might be the use of traditional casting techniques by induction melting of the alloy in a ceramic crucible and pouring into ceramic moulds, made by the investment casting process. However, due to the high reactivity of Ti alloys, traditional ceramic materials cannot be used, as they lead to oxide formation and oxygen pick up from both the crucible and the moulding materials. In this work, the effect of low level contaminations was studied by SIMS. Special attention was given to the oxygen concentration of samples obtained with different mould materials. The comparison of SIMS in-depth profiles with hardness profiles, give insight concerning the significance of the oxygen concentration in the properties of the alloy and regarding the choice of the most suitable materials for TiAl production.

Titanium aluminides are arising as a valuable alternative to superalloys in applications where the ratio resistance/density is important. Together with excellent mechanical and corrosion properties at high temperatures, such characteristics are very attractive for applications in the aeronautical, aerospace and automotive industries. However, the current high selling price, due to high costs of production and raw materials and the need of very specific equipment, are limitative factors for further applications. With the end of the cold war, and the decrease of traditional markets of TiAl, the strategy to develop other applications, strongly depends on the decrease of production costs. An alternative to the present production routes might be the use of traditional casting techniques, by induction melting of the alloy in a ceramic crucible and pouring into ceramic moulds, made by the investment casting process. However, due to the high reactivity of Ti alloys, the use of traditional ceramic materials cannot be used, as they lead to oxide formation and oxygen pick up both from the crucible and the moulding materials. In this work, the relative oxygen concentration of Ti-48Al castings was measured by SIMS — Secondary Ion Mass Spectrometry. This technique provides a direct measurement of the isotopic composition with high sensitivity. The cylindrical samples were specially prepared to allow the analysis of the area close to the border. Oxygen profiles were acquired for samples obtained by with different mould materials. The comparison of such profiles with hardness profiles, give insight in the significance of the oxygen concentration in the properties of the alloy and in the choice of the most suitable materials for TiAl production

The role of standardised innovation management systems (SIMS) in fostering organisational innovation has been largely overlooked in the literature. This study addresses this gap by investigating the certification, maintenance, and decertification of SIMS. Using a descriptive and inductive methodology, the research analyses primary data from 94 Portuguese organisations with certified SIMS. The findings reveal a strong prevalence of internal motivations for certification, low implementation obstacles, and significant benefits, suggesting that these firms have successfully internalised the SIMS standard into their innovation management processes. Maintenance motivations are also strong, particularly internal ones, which align well with the critical success factors for sustaining certification. The benefits of maintaining SIMS are substantial, particularly internal benefits, as initial external motivations for certification often evolve into internal maintenance motivations. Decertification motivations and propensity are weak among the sample firms. Expectations of negative performance impacts following potential decertification are also low, likely because these organisations have effectively internalised the SIMS standard. This study is the first to explore the maintenance and decertification of SIMS, providing evidence that SIMS can deliver substantial benefits, be efficiently maintained, and continuously enhance innovation and competitiveness. As a result, most organisations exhibit little interest in decertification. The findings offer significant contributions to research and provide actionable insights for practitioners, suggesting that innovation management systems can indeed be standardised with considerable benefits.